您好，歡迎您來到深圳華普通用科技有限公司！
電話：19867723812您好，歡迎您來到深圳華普通用科技有限公司！
電話：19867723812
當前位置：首頁 > 產品展示 > X熒光光譜、XRF（波長色散型X熒光光譜儀） > 日本理學連續波長色散X射線熒光光譜儀
型號：ZSX Primus 400
產品價格：電議 采購度：220 發布時間：2023/6/8 15:28:41
儀器產地：日本 所屬地區： 廣東 深圳市
簡要描述： Rigaku 獨特的 ZSX Primus 400 連續波長色散 X 射線熒光 (WDXRF) 光譜儀為處理非常大或重的樣品而設計。該系統可接受直徑大為 400 毫米、厚度為 50 毫米和質量為 30 千克的樣品，非常適合分析濺射靶材、磁盤，或用于多層薄膜計量或大型樣品的元素分析。
Rigaku 獨特的 ZSX Primus 400 連續波長色散 X 射線熒光 (WDXRF) 光譜儀為處理非常大或重的樣品而設計。該系統可接受直徑大為 400 毫米、厚度為 50 毫米和質量為 30 千克的樣品，非常適合分析濺射靶材、磁盤，或用于多層薄膜計量或大型樣品的元素分析。
優點
帶有定制樣品適配器系統的 XRF,適應特定樣品分析需求的多功能性，可使用可選適配器插件適應各種樣品尺寸和形狀。憑借可變測量點（直徑 30 毫米至 0.5 毫米，具有 5 步自動選擇）和具有多點測量的映射功能以檢查樣品均勻性。
具有可用相機和特殊照明的 XRF,可選的實時攝像頭允許在軟件中查看分析區域。
仍保留了傳統儀器的所有分析能力。
安全性
采用上照射設計,樣品室可簡單移出，再不用擔心污染光路，清理麻煩和增加清理時間等問題。
固體、液體、粉末、合金和薄膜的元素分析:
濺射靶材組成.
隔離膜：SiO2、BPSG、PSG、AsSG、Si₃N₄、SiOF、SiON等。
高 k 和鐵電介質薄膜：PZT、BST、SBT、Ta2O5、HfSiOx
金屬薄膜：Al-Cu-Si、W、TiW、Co、TiN、TaN、Ta-Al、Ir、Pt、Ru、Au、Ni等。
電膜：摻雜多晶硅（摻雜劑：B、N、O、P、As）、非晶硅、WSix、Pt等。
其他摻雜薄膜（As、P）、困惰性氣體（Ne、Ar、Kr等）、C（DLC）
鐵電薄膜、FRAM、MRAM、GMR、TMR；PCM、GST、GeTe
焊料凸點成分：SnAg、SnAgCuNi
MEMS：ZnO、AlN、PZT的厚度和成分
SAW器件工藝：AlN、ZnO、ZnS、SiO 2（壓電薄膜）的厚度和成分；Al、AlCu、AlSc、AlTi（電膜）
大樣本分析：大 400 毫米（直徑），大 50 毫米（厚度），高達 30 千克（質量）
樣品適配器系統，適用于各種樣本量
測量點：30 毫米至 0.5 毫米直徑，5步自動選擇
映射能力，允許多點測量
樣品視圖相機（可選）
分析范圍：Be - U
元素范圍：ppm 至 %
厚度范圍：sub Å 至 mm
衍射干擾抑制（可選）：單晶襯底的準確結果
符合行業標準：SEMI、CE標志
占地面積小，以型號的 50% 占地面積
更新時間：2024/8/15 13:48:39
1.遵守中華人民共和國有關法律、法規，尊重網上道德，承擔一切因您的行為而直接或間接引起的法律責任。
2.請您真實的反映產品的情況,不要捏造、誣蔑、造謠。如對產品有任何疑問,也可以留言咨詢。
3.未經本站同意，任何人不得利用本留言簿發布個人或團體的具有廣告性質的信息或類似言論。
友情鏈接： 示波器 波長色散X射線熒光光譜儀 石墨模具
